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商品	説明	価格
洋書 Springer Paperback, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text For Biologists, Materials Scientists, And Geologists Glomarket	* We ship internationally, so do not use a package forwarding service. We cannot ship to a package forwarding company address because of the Japanese customs regulation. If it is shipped and customs office does not let the package go, we do not make a refund. 【注意事項】 * 特に注意してください。 * ・個人ではない法人・団体名義での購入はできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。・お名前にカタカナが入っている場合法人である可能性が高いため当店システムから自動保留します。カタカナで記載が必要な場合はカタカナ変わりローマ字で記載してください。・お名前またはご住所が法人・団体名義（XX株式会社等）、商店名などを含めている場合、または電話番号が個人のものではない場合、税関から法人名義でみなされますのでご注意ください。・転送サービス会社への発送もできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。 * ・注文後品切れや価格変動でキャンセルされる場合がございますので予めご了承願います。・当店でご購入された商品は、原則として、「個人輸入」としての取り扱いになり、すべてニュージャージからお客様のもとへ直送されます。・ご注文後、30営業日以内(通常2~3週間)に配送手続きをいたします。配送作業完了後、2週間程度でのお届けとなります。・まれに商品入荷状況や国際情勢、運送、通関事情により、お届けが2ヶ月までかかる場合がありますのでお急ぎの場合は注文をお控えください。・個人輸入される商品は、すべてご注文者自身の「個人使用・個人消費」が前提となりますので、ご注文された商品を第三者へ譲渡・転売することは法律で禁止されております。・関税・消費税が課税される場合があります。詳細はこちらをご確認下さい。PC販売説明文	19,501円
2nd International Multidisciplinary Microscopy and Microanalysis Congress Proceedings of InterM, October 16-19, 2014【電子書籍】楽天Kobo電子書籍ストア	＜p＞The 2nd International Multidisciplinary Microscopy and Microanalysis Congress & Exhibition (InterM 2014) was held on 16?19 October 2014 in Oludeniz, Fethiye/ Mugla, Turkey.＜/p＞＜p＞The aim of the congress was to gather scientists from various branches and discuss the latest improvements in the field of microscopy. The focus of the congress has been widened in an "interdisciplinary" manner, so as to allow all scientists working on several related subjects to participate and present their work.＜/p＞＜p＞These proceedings include 33 peer-reviewed technical papers, submitted by leading academic and research institutions from over 17 countries and representing some of the most cutting-edge research available. The papers were presented at the congress in the following sessions:＜/p＞＜p＞・ Applications of Microscopy in the Physical Sciences＜/p＞＜p＞・ Applications of Microscopy in the Biological Sciences＜/p＞画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。 ※ご購入は、楽天kobo商品ページからお願いします。※切り替わらない場合は、こちらをクリックして下さい。 ※このページからは注文できません。	18,231円
Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis【電子書籍】[ Patrick Echlin ] 楽天Kobo電子書籍ストア	＜p＞Scanning electr on microscopy (SEM) and x-ray microanalysis can produce magnified images and in situ chemical information from virtually any type of specimen. The two instruments generally operate in a high vacuum and a very dry environment in order to produce the high energy beam of electrons needed for imaging and analysis. With a few notable exceptions, most specimens destined for study in the SEM are poor conductors and composed of beam sensitive light elements containing variable amounts of water. In the SEM, the imaging system depends on the specimen being sufficiently electrically conductive to ensure that the bulk of the incoming electrons go to ground. The formation of the image depends on collecting the different signals that are scattered as a consequence of the high energy beam interacting with the sample. Backscattered electrons and secondary electrons are generated within the primary beam-sample interactive volume and are the two principal signals used to form images. The backscattered electron coefficient ( ? ) increases with increasing atomic number of the specimen, whereas the secondary electron coefficient ( ? ) is relatively insensitive to atomic number. This fundamental diff- ence in the two signals can have an important effect on the way samples may need to be prepared. The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.＜/p＞画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。 ※ご購入は、楽天kobo商品ページからお願いします。※切り替わらない場合は、こちらをクリックして下さい。 ※このページからは注文できません。	18,231円
3rd International Multidisciplinary Microscopy and Microanalysis Congress (InterM) Proceedings, Oludeniz, Turkey, 19-23 October 2015【電子書籍】楽天Kobo電子書籍ストア	＜p＞The 3rd International Multidisciplinary Microscopy Congress (InterM2015), held from 19 to 23 October 2015, focused on the latest developments concerning applications of microscopy in the biological, physical and chemical sciences at all dimensional scales, advances in instrumentation, techniques in and educational materials on microscopy. These proceedings gather 17 peer-reviewed technical papers submitted by leading academic and research institutions from nine countries and representing some of the most cutting-edge research available.＜/p＞画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。 ※ご購入は、楽天kobo商品ページからお願いします。※切り替わらない場合は、こちらをクリックして下さい。 ※このページからは注文できません。	18,231円
【中古】【輸入品・未使用】Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences%カンマ% 45) ムジカ＆フェリーチェ楽天市場店	【中古】【輸入品・未使用】Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences%カンマ% 45)【メーカー名】Springer【メーカー型番】【ブランド名】Springer【商品説明】Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences%カンマ% 45)当店では初期不良に限り、商品到着から7日間は返品を受付けております。こちらは海外販売用に買取り致しました未使用品です。買取り致しました為、中古扱いとしております。他モールとの併売品の為、完売の際はご連絡致しますのでご了承下さい。速やかにご返金させて頂きます。ご注文からお届けまで1、ご注文⇒ご注文は24時間受け付けております。2、注文確認⇒ご注文後、当店から注文確認メールを送信します。3、配送⇒当店海外倉庫から取り寄せの場合は10〜30日程度でのお届けとなります。国内到着後、発送の際に通知にてご連絡致します。国内倉庫からの場合は3〜7日でのお届けとなります。　※離島、北海道、九州、沖縄は遅れる場合がございます。予めご了承下さい。お電話でのお問合せは少人数で運営の為受け付けておりませんので、メールにてお問合せお願い致します。営業時間　月〜金　10:00〜17:00お客様都合によるご注文後のキャンセル・返品はお受けしておりませんのでご了承下さい。	143,125円
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis【電子書籍】[ Joseph I. Goldstein ] 楽天Kobo電子書籍ストア	＜p＞This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD) for micro-crystallography, and focused ion beams. Students and academic researchers will find the text to be an authoritative and scholarly resource, while SEM operators and a diversity of practitioners ー engineers, technicians, physical and biological scientists, clinicians, and technical managers ー will find that every chapter has been overhauled to meet the more practical needs of the technologist and working professional. In a break with the past, this Fourth Edition de-emphasizes the design and physical operating basis of the instrumentation, including the electron sources, lenses, detectors, etc. In the modern SEM, many of the low level instrument parameters are now controlled and optimized by the microscope’s software, and user access is restricted. Although the software control system provides efficient and reproducible microscopy and microanalysis, the user must understand the parameter space wherein choices are made to achieve effective and meaningful microscopy, microanalysis, and micro-crystallography. Therefore, special emphasis is placed on beam energy, beam current, electron detector characteristics and controls, and ancillary techniques such as energy dispersive x-ray spectrometry (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD).＜/p＞＜p＞With 13 years between the publication of the third and fourth editions, new coverage reflects the many improvements in the instrument and analysis techniques. The SEM has evolved into a powerful and versatile characterization platform in which morphology, elemental composition, and crystal structure can be evaluated simultaneously. Extension of the SEM into a "dual beam" platform incorporating bothelectron and ion columns allows precision modification of the specimen by focused ion beam milling. New coverage in the Fourth Edition includes the increasing use of field emission guns and SEM instruments with high resolution capabilities, variable pressure SEM operation, theory, and measurement of x-rays with high throughput silicon drift detector (SDD-EDS) x-ray spectrometers. In addition to powerful vendor- supplied software to support data collection and processing, the microscopist can access advanced capabilities available in free, open source software platforms, including the National Institutes of Health (NIH) ImageJ-Fiji for image processing and the National Institute of Standards and Technology (NIST) DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and spectral simulation, both of which are extensively used in this work. However, the user has a responsibility to bring intellect, curiosity, and a proper skepticism to information on a computer screen and to the entire measurement process. This book helps you to achieve this goal.＜/p＞＜ul＞＜li＞＜p＞Realigns the text with the needs of a diverse audience from researchers and graduate students to SEM operators and technical managers＜/p＞＜/li＞＜li＞＜p＞Emphasizes practical, hands-on operation of the microscope, particularly user selection of the critical operating parameters to achieve meaningful results＜/p＞＜/li＞＜li＞＜p＞Provides step-by-step overviews of SEM, EDS, and EBSD and checklists of critical issues for SEM imaging, EDS x-ray microanalysis, and EBSD crystallographic measurements＜/p＞＜/li＞＜li＞＜p＞Makes extensive use of open source software: NIH ImageJ-FIJI for image processing and NIST DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and EDS spectral simulation.＜/p＞＜/li＞＜li＞＜p＞Includes case studies to illustrate practical problem solving＜/p＞＜/li＞＜li＞＜p＞Covers Helium ion scanning microscopy＜/p＞＜/li＞＜li＞＜p＞Organized into relatively self-contained modules ? no need to "read it all" to understand a topic＜/p＞＜/li＞＜li＞＜p＞Includesan online supplementーan extensive "Database of Electron?Solid Interactions"ーwhich can be accessed on SpringerLink, in Chapter 3＜/p＞＜/li＞＜/ul＞画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。 ※ご購入は、楽天kobo商品ページからお願いします。※切り替わらない場合は、こちらをクリックして下さい。 ※このページからは注文できません。	12,154円
Microscopy and Microanalysis for Lithium-Ion Batteries【電子書籍】楽天Kobo電子書籍ストア	＜p＞The past three decades have witnessed the great success of lithium-ion batteries, especially in the areas of 3C products, electrical vehicles, and smart grid applications. However, further optimization of the energy/power density, coulombic efficiency, cycle life, charge speed, and environmental adaptability are still needed. To address these issues, a thorough understanding of the reaction inside a battery or dynamic evolution of each component is required. ＜em＞Microscopy and Microanalysis for Lithium-Ion Batteries＜/em＞ discusses advanced analytical techniques that offer the capability of resolving the structure and chemistry at an atomic resolution to further drive lithium-ion battery research and development.＜/p＞＜ul＞＜li＞Provides comprehensive techniques that probe the fundamentals of Li-ion batteries＜/li＞＜li＞Covers the basic principles of the techniques involved as well as its application in battery research＜/li＞＜li＞Describes details of experimental setups and procedure for successful experiments＜/li＞＜/ul＞＜p＞This reference is aimed at researchers, engineers, and scientists studying lithium-ion batteries including chemical, materials, and electrical engineers, as well as chemists and physicists.＜/p＞画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。 ※ご購入は、楽天kobo商品ページからお願いします。※切り替わらない場合は、こちらをクリックして下さい。 ※このページからは注文できません。	12,635円
洋書 Springer Paperback, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists Glomarket	* We ship internationally, so do not use a package forwarding service. We cannot ship to a package forwarding company address because of the Japanese customs regulation. If it is shipped and customs office does not let the package go, we do not make a refund. 【注意事項】 * 特に注意してください。 * ・個人ではない法人・団体名義での購入はできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。・お名前にカタカナが入っている場合法人である可能性が高いため当店システムから自動保留します。カタカナで記載が必要な場合はカタカナ変わりローマ字で記載してください。・お名前またはご住所が法人・団体名義（XX株式会社等）、商店名などを含めている場合、または電話番号が個人のものではない場合、税関から法人名義でみなされますのでご注意ください。・転送サービス会社への発送もできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。 * ・注文後品切れや価格変動でキャンセルされる場合がございますので予めご了承願います。・当店でご購入された商品は、原則として、「個人輸入」としての取り扱いになり、すべてニュージャージからお客様のもとへ直送されます。・ご注文後、30営業日以内(通常2~3週間)に配送手続きをいたします。配送作業完了後、2週間程度でのお届けとなります。・まれに商品入荷状況や国際情勢、運送、通関事情により、お届けが2ヶ月までかかる場合がありますのでお急ぎの場合は注文をお控えください。・個人輸入される商品は、すべてご注文者自身の「個人使用・個人消費」が前提となりますので、ご注文された商品を第三者へ譲渡・転売することは法律で禁止されております。・関税・消費税が課税される場合があります。詳細はこちらをご確認下さい。PC販売説明文	27,549円
【中古】【輸入品・未使用】Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis ムジカ＆フェリーチェ楽天市場店	【中古】【輸入品・未使用】Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis【メーカー名】Springer【メーカー型番】【ブランド名】Springer【商品説明】Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis当店では初期不良に限り、商品到着から7日間は返品を受付けております。こちらは海外販売用に買取り致しました未使用品です。買取り致しました為、中古扱いとしております。他モールとの併売品の為、完売の際はご連絡致しますのでご了承下さい。速やかにご返金させて頂きます。ご注文からお届けまで1、ご注文⇒ご注文は24時間受け付けております。2、注文確認⇒ご注文後、当店から注文確認メールを送信します。3、配送⇒当店海外倉庫から取り寄せの場合は10〜30日程度でのお届けとなります。国内到着後、発送の際に通知にてご連絡致します。国内倉庫からの場合は3〜7日でのお届けとなります。　※離島、北海道、九州、沖縄は遅れる場合がございます。予めご了承下さい。お電話でのお問合せは少人数で運営の為受け付けておりませんので、メールにてお問合せお願い致します。営業時間　月〜金　10:00〜17:00お客様都合によるご注文後のキャンセル・返品はお受けしておりませんのでご了承下さい。	49,412円
洋書 Springer Paperback, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Glomarket	* We ship internationally, so do not use a package forwarding service. We cannot ship to a package forwarding company address because of the Japanese customs regulation. If it is shipped and customs office does not let the package go, we do not make a refund. 【注意事項】 * 特に注意してください。 * ・個人ではない法人・団体名義での購入はできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。・お名前にカタカナが入っている場合法人である可能性が高いため当店システムから自動保留します。カタカナで記載が必要な場合はカタカナ変わりローマ字で記載してください。・お名前またはご住所が法人・団体名義（XX株式会社等）、商店名などを含めている場合、または電話番号が個人のものではない場合、税関から法人名義でみなされますのでご注意ください。・転送サービス会社への発送もできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。 * ・注文後品切れや価格変動でキャンセルされる場合がございますので予めご了承願います。・当店でご購入された商品は、原則として、「個人輸入」としての取り扱いになり、すべてニュージャージからお客様のもとへ直送されます。・ご注文後、30営業日以内(通常2~3週間)に配送手続きをいたします。配送作業完了後、2週間程度でのお届けとなります。・まれに商品入荷状況や国際情勢、運送、通関事情により、お届けが2ヶ月までかかる場合がありますのでお急ぎの場合は注文をお控えください。・個人輸入される商品は、すべてご注文者自身の「個人使用・個人消費」が前提となりますので、ご注文された商品を第三者へ譲渡・転売することは法律で禁止されております。・関税・消費税が課税される場合があります。詳細はこちらをご確認下さい。PC販売説明文	28,225円
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis Principles and Applications, Second Edition,【電子書籍】楽天Kobo電子書籍ストア	＜p＞The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr＜/p＞画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。 ※ご購入は、楽天kobo商品ページからお願いします。※切り替わらない場合は、こちらをクリックして下さい。 ※このページからは注文できません。	14,656円